安捷倫惠普HP4193A 阻抗分析儀

主要用途
測試材料的阻抗Z，導納Y，電感L，電阻R,介電損耗D ,品質(zhì)因數(shù)
射頻阻抗計量器具檢定系統(tǒng)Verification Scheme of RF
Impedance Measuring Instruments 　　
JJG 2011-87代替：高頻阻抗量值傳遞系統(tǒng)
射頻阻抗計量器具檢定系統(tǒng)
本檢定系統(tǒng)適用于射（高）頻集總參數(shù)阻抗計量器具（即檢測20kHz-1GHz頻段的
R，L，C元件和材料電磁特性所有物儀器設(shè)備和量具、標準件），規(guī)定了射頻（習慣
上也稱高頻）集總參數(shù)阻抗量的量值溯源途徑、傳遞程序及計量器具的檢定方法。

一、計量基準器具
1、高頻集總參數(shù)阻抗的國jia計量基準器具是指用于復現(xiàn)和保存20kHz-1000GHz高
頻阻抗量值（包括電介質(zhì)材料的復數(shù)介電常數(shù)和軟磁材料的復數(shù)導磁率）的計量設(shè)備
和量具。
2、射（高）頻集總參數(shù)阻抗計量基準器具包括：
 2.1空氣介質(zhì)同軸線阻抗基準，其阻抗量值由同軸線尺寸和材料電磁特性論
計算求得。它用以校準按反射系數(shù)測量原理設(shè)計的高頻阻抗***測量裝置。空氣介質(zhì)
同軸線也是微波阻抗國jia基準，本檢定系統(tǒng)移用它，有利于射（高）頻、微波阻抗量值的統(tǒng)一。在（1-1000）MHz頻段，其技術(shù)指標為：反射系數(shù)模值｜г｜：1.000±0.002；　　　　相角：±180°±0.5°。
 2.2高頻阻高頻阻抗***測量裝置，它是利用從美國引進的HP4191A高頻阻抗分析儀，經(jīng)過準確度論證分析，***高頻集總參數(shù)阻抗量的以下計量工作性能：
　　　　頻率：（1-1000）MHz
　　　　反射系數(shù)模值｜г｜：1.000±(0.003-0.007)
　　　　相角θ：±180°±0.5°；
　　　　阻抗模值｜Z｜：1Ω-10kΩ±（0.5-10）%
　　　　電容C：10pF-100nF±(0.2-10)%;
　　　　電感L：10nH-100μH±（0.2-10）%
　　　　損耗：tgδ（D）0.001-0.5±<(0.002-0.05)

回收銷售:

美國原裝NI-PCI系列數(shù)據(jù)采集

NI-PCI-6229、NI-PCI-6239、

NI-PCI-6225、NI-PCI-6224、

NI-PCI-6221、NI-PCI-6509、

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NI-PCI-4461、NI-PCI-6250、

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NI-PCI-4461、NI-PCI-6030、

NI-PCI-6250、NI-PCI-6010、

NI-PCI-4462、NI-PCI-7344、

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NI-PCI-6023E、NI-PCI-6025E、

NI-PCI-6323E、NI-PCI-6052E、

NI-PCI-6034E、NI-PCI-8430/2、

NI-PCI-8513/2、NI-PCI-GPIB 小卡等NI-PCI系列采集卡

PCIE-6320 PCIE-6321 PCIE-6353 PCIE-6361

PCIE-6363 PCIE-1433

PCIE-6323 PCIE-6351

PCI系列

PCI-6250 PCI-6251 PCI-6280 PCI-6281 PCI-6284 PCI-6220 PCI-6221 PCI-6224  

PCI-6225 PCI-6229 

PCI-6230 PCI-6289

USB系列

USB-6501 USB-6008 USB-6009 USB-8451 USB-6525 USB-6210 USB-6211 USB-6212 USB-6216 USB-6218 USB-6341 USB-6229

USB-6215 USB-6216 USB-6225 USB-6221

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